Принцип дії
Головне завдання приладу полягає в обробці параметрів випромінювання, відображеного поверхнею об’єкта. Для цього застосовується вищезгадана оптична система, яка фіксує найменші зміни апертурної діафрагми на фоні регулювання параметрів освітлення об’єкта. В деякому сенсі робочим фактором виміру виступає хід променів, який по-різному себе проявляє в світлих і темних полях. Наприклад, при дослідженні в світлому полі промені, що надходять від лампи, проходять через діафрагми (польову і апертурную) і направляються до відбивної пластині. Остання, у свою чергу, відображає характеристики досліджуваної структури, частково переправляючи світло і на цільове виріб з допомогою об’єктива.
При спостереженні предметів у темному полі оптичний металографічний мікроскоп взаємодіє з параболічною дзеркально-відбиваючою поверхнею, кільцевої діафрагмою та відкидною лінзою. Крайні пучки випромінювання, минаючи діафрагму, направляються до кільцевому дзеркалу, що охоплює пластину з відбивачем. З цього моменту дзеркало починає відбивати світло на конденсор з перенаправленням променів в площину об’єкта. Зображення сформується на основі характеристик відбитих променів, що пройшли через об’єктив і потрапили в оптичний тубус.
